本公司專業(yè)代理NIST國際標準品，詢價訂購： 。

標準參考物質(zhì)? 2944

熒光光譜的相對強度校正標準：

紅色發(fā)射

樣品系列

NIST SRM熒光光譜的相對強度校正

   本標準參考材料（SRM）用于相對光譜的評估和校準具有連續(xù)激發(fā)源的穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀的響應(yīng)度和用于測定單個或類似熒光儀器的日常或儀器間強度變化，分別地SRM 2944的一個單元由一塊反應(yīng)杯形狀的實心玻璃組成。樣本系列單元Bi0XX和Bi0YY之間的序列號。該SRM的相對校正發(fā)射光譜E，以發(fā)射波長λEM=530 nm至830 nm的相對能量單位，波長間隔為1nm，波長固定激發(fā)波長（λEX）為515.0 nm。由于峰值附近有較大的信噪比，因此排放λEM=590 nm至805 nm的范圍是大多數(shù)儀器和應(yīng)用的最佳范圍。請注意當用于熒光光譜儀的光譜校正時，標準的認證值成為參考值用脈沖光源。

認證值：NIST認證值是指NIST對其準確性有最高信心的值所有已知或可疑的偏見來源都已被調(diào)查或考慮[1]。E的認證值在95%置信水平下，每個發(fā)射波長下相應(yīng)的總不確定度U95如表所示表1和表2。E的計量溯源性為NIST光譜輻射度標度，以相對輻射度表示能量單位。SI波長的溯源性是指計量儀表的波長溯源性。SRM的定位應(yīng)使激發(fā)光束垂直于一個拋光面，并位于其中心，且與從與激發(fā)光束成90度角的相鄰拋光面收集發(fā)射。漫長的磨砂面應(yīng)背對著檢測系統(tǒng)。每個SRM的頂部都刻有自己的序列號面部，使用時應(yīng)面朝上。磨砂面可與正面或熒光幾何體一起使用，或拋光面可用于不同于上述規(guī)定的幾何形狀，但認證值在這些情況下成為參考值。在25.0℃±0.5℃條件下，使用激勵帶寬(?λEX）3.0 nm和發(fā)射帶寬(?λEM）為3.0 nm。

NIST SRM熒光光譜的相對強度校正

認證有效期：SRM 2944的認證在規(guī)定的測量不確定度范圍內(nèi)有效，直到2025年8月31日，前提是SRM按照本證書中給出的說明進行處理和存儲（參見“搬運、儲存和使用說明"）。如果SRM損壞，則認證無效，被污染或以其他方式修改。